Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
Vis innførsel
Hjem
Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Investigation of veryintenseD3-band emission in multi-crystalline silicon wafers using electron microscopy and hyperspectral photoluminescence imaging
Thøgersen, Annett
;
Jensen, Ingvild Julie Thue
;
Graff, Joachim Seland
;
Ringdalen, Inga Gudem
;
Almeida Carvalho, Patricia
;
Mehl, Torbjørn
;
Zhu, Junjie
;
Burud, Ingunn
;
Olsen, Espen
;
Søndenå, Rune
Peer reviewed, Journal article
Published version
Åpne
Th%C3%B8gersen2022.pdf (4.673Mb)
Permanent lenke
https://hdl.handle.net/11250/2993845
Utgivelsesdato
2022
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Journal articles (peer reviewed)
[4829]
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
[5750]
Originalversjon
Journal of Applied Physics. 2022, 131(14).
https://doi.org/10.1063/5.0087119
Tidsskrift
Journal of Applied Physics
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk